1、所用載體基膜非光學級，不適合光學無損檢測：在一些需要高精度無損檢測的領域，需要在偏光片兩側貼附PET離型膜，這對PET離型膜的光學性能有著十分苛刻的要求，普通離型膜所用的薄膜由于光學性能要求不高，透光率較低，霧度和清晰度都不能滿足光學無損檢測的需要，因此該離型膜的制造非光學PET膜莫屬。

  2、有機硅與載體膜表/界面研究少有關注，“掉硅”現象時有出現：在一些要求嚴格的適用領域，需要有機硅離型膜去除后低殘留或無殘留，因此對有機硅與載體膜都有著極高的要求，然而有機硅與載體膜表/界面研究少有關注。

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